X 射线荧光测量系统，用于在光滑和压印（包括带有铸模接触面）的轴带生产过程中，进行连续的在线测量和分析

特点
用于在持续生产过程中对薄膜、轴带和冲压带上的涂镀层进行连续测量
可按照样品运动方向正确调整测量头的角度
操作简单，设置时间短
X射线探测器可以为比例计数管，珀耳帖制冷的硅 PIN 或硅漂移探测器
有定位装置，用于测量多个位置进行测量
根据客户需要专门设计
自动校准
可以快速地从一条生产线上转移到另一条生产线
可方便地集成到质量控制系统和过程控制系统中 
典型应用领域
 电镀条带，例如接触点、冲压带
测量热镀锌钢带
太阳能薄膜电池（光伏产业
薄膜和条带上的金属涂镀层
电子工业及其供应商
生产过程监控